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       在正常情況，若電容發(fā)生異常情況導(dǎo)致短路，其電流會(huì)變大，會(huì)導(dǎo)致輸入線(xiàn)路側(cè)的熔斷器熔斷，切斷輸入線(xiàn)路的電源。但從事故的現(xiàn)場(chǎng)考察，當(dāng)時(shí)固定電容的輸入線(xiàn)路的3相熔斷器并無(wú)熔斷，證明當(dāng)時(shí)的電容輸入電流并無(wú)過(guò)流，或其電流值并未超過(guò)配套熔斷器的安秒特性。

       因此，造成此次電容爆裂的主要原因是:電容自身的質(zhì)量缺陷(絕緣紙或鉛箔的質(zhì)量差)、熔斷器的安秒特性與該電容器配置不適當(dāng)。

如下為電容爆裂過(guò)程分析:
       單個(gè)電力電容器由三個(gè)電容器連接成?形，裝在有填料的密封容器中，頂端引出三個(gè)接線(xiàn)端子，如下圖3、圖4所示。

其等效電路圖如圖5所示：
       假設(shè)A，B相間某一電容器其絕緣等級(jí)降低。圖6是A、B相間的等效電路圖。
       其中R為絕緣等級(jí)降低電容的等效電阻。等效電阻R是一個(gè)可變的動(dòng)態(tài)電阻。電容器在被擊穿過(guò)程中，電容會(huì)產(chǎn)生焦耳熱，焦耳熱的表達(dá)式為：
       因R動(dòng)態(tài)電阻是有大變小，時(shí)間越長(zhǎng)，產(chǎn)生的熱量越多。在一段時(shí)間內(nèi)電容已經(jīng)積聚一定的熱量，使電容發(fā)熱膨脹。當(dāng)電容有過(guò)大的漏電電流或瞬間擊穿時(shí)，電容器會(huì)在很短時(shí)間內(nèi)產(chǎn)生更大的熱能，造成電容爆裂，原來(lái)積聚在電容器內(nèi)的瀝青氣體會(huì)迅速向外擴(kuò)散，對(duì)周邊的器件造成熏黑。